產(chǎn)品名稱(chēng): 變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): XED4900E
產(chǎn)品展商: 揚(yáng)州欣恩達(dá)
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
XED4900E變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用變頻抗干擾技術(shù)，在200%干擾下仍能準(zhǔn)確測(cè)量，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，適合在現(xiàn)場(chǎng)做抗干擾介損試驗(yàn)。
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
XED4900E變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
1.本儀器用于現(xiàn)場(chǎng)抗干擾介損測(cè)量，或試驗(yàn)室精密介損測(cè)量。
2.儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗(yàn)變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。
3.采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動(dòng)智能化測(cè)量，強(qiáng)干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。
4.測(cè)量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機(jī)可打印輸出。
二，XED4900E變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)
準(zhǔn)確度：
Cx:±(讀數(shù)×1%+1pF)
tgδ:±(讀數(shù)×1%+0.00040)
抗干擾指標(biāo)：
變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
電容量范圍：
內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
外施高壓：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
分辨率：*0.001pF，4位有效數(shù)字
t gδ范圍：不限，分辨率0.001%，
電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。
試驗(yàn)電流范圍：10μA～5A
內(nèi)施高壓：
設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
*大輸出電流：200mA
升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
電壓精度：±(1.5%×讀數(shù)+10V)
電壓分辨率：1V
試驗(yàn)頻率：45、50、55單頻
頻率精度：±0.01Hz
外施高壓：
正接線時(shí)*大試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
反接線時(shí)*大試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
CVT自激法低壓輸出：
輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A
測(cè)量時(shí)間：約40s，與測(cè)量方式有關(guān)
輸入電源：180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電
計(jì)算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口
打印機(jī)： 煒煌A7熱敏微型打印機(jī)
環(huán)境溫度：-10℃～50℃
相對(duì)濕度：<90%